#P1602. 芯片测试

芯片测试

题目描述

有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。

每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。

给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。

输入格式

输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。

第二行到第n+1n+1行为nnn*n的一张表,每行nn个数据。表中的每个数据为0011,在这nn行中的第ii行第jj列(11ii, jjnn)的数据表示用第ii块芯片测试第jj块芯片时得到的测试结果,11表示好,00表示坏,i=ji=j时一律为11(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。

输出格式

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例

3 
1 0 1 
0 1 0 
1 0 1
1 3

提示

来源:蓝桥杯基础

by 20王聪 录入